Thin Film Measurement

Microscope Thin Film Measurement

Leistungsfähiges System für Schichtdicken zw. 50 nm und ca 50 µm

Semiconductor Fabrication
• Photoresist
• Oxides
• Nitrides
Liquid Crystal Displays
• Cell Gaps
• Polyimides
• ITO
Optical Coatings
• Hardness Coatings
• Anti-Reflection Coatings
• Filters

Promicron DM12000-TF

Wafer 9A

Universelles Halbleiter Mikroskop mit Schichtdickenmess- Option

DM12000 TF

L

Anfrage

Bitte rechnen Sie 7 plus 4.