Logo
languageLanguage
language
Navigation überspringen
  • Home
  • Firma
  • Produkte
  • Applikationen
  • Lösungen
  • Promicron Lab
  • Galerie
  • Kontakt
  • Karriere
 
Suche
  • Promicron
  • Galerie

Galerie

  • sim.gif
  • Oberflaeche der Schichtdickenmessung.jpg
  • inm_200_2jpg-l.jpg
  • wli-stufenhoehenmessung-3d.png
  • Kamera.jpg
  • mcs_dm6000_nanocal-17b_l_.jpg
  • leica3_lot_1_wafer_2_55398.jpg
  • wli_1-l.jpg
  • wafer-rueckseite-makroinspektion.jpg
  • cd-overlay-measuring.jpg
  • wafer_handling10-l-2.jpg
  • Leica INS_2.jpg
  • MCS-DefectFinder_s.png
  • Wafer-Inspektionsmap.jpg
  • Reinraum.jpg
  • confocal_50x_7-2-2.png
  • flyer-aufl-l-3.jpg
  • Applikationslabor.jpg
  • verify_die_positions-l.jpg
  • CAD-Konstruktion-Promis-A.png
  • Wafer02.jpg
  • wafer-makroinspektion.jpg
  • inm100_1jpg-l.jpg
  • dm12000-l.jpg
  • softmark_wli-2-2.png
  • fullWafer_brightfield.jpg
  • flyer-ir-dl-l-3.jpg
  • tfm_fasersonde.jpg
  • Wafer01.jpg
  • mcs02_detail-l-3.jpg
  • confocal01-l.jpg
  • wafer9A.gif
  • Leica INS3300.jpg
  • softmarks-l.png
  • Waferloader.JPG
  • inspection_metrology_station_0116_3-kopie-l.jpg
  • bare-wafer-defectscan.png
  • DM8000_01.jpg
  • defekt1_confocal3.png
  • leica-dm8000-m-detail-optiken-011-l.jpg
  • MCS-IS software.jpg
  • confocal_50x_10s.png
  • Chuck_02.jpg
  • DM8000_Chuck_01.jpg
  • cd-overlay-measuring02-kopie-l.jpg
  • Leica INS_1.jpg
  • profil_50x-2_wli-2.png
  • wafer__99_4.jpg
  • Promis Station_0107.JPG
  • inm200.jpg
  • hmr_3l-l.jpg

Kontakt

Promicron GmbH

Bachmühlweg 24
74366 Kirchheim am Neckar

Tel: +49 7143 - 40560
Fax: +49 7143 - 405629

E-mail: info@promicron.com

Links

Kontaktformular

Datenschutzerklärung

Impressum