Schichtdickenmessung (Thin Film Measurement)

Leistungsfähiges System für Schichtdicken zwischen 50 nm und ca. 50 µm.

Halbleiterfertigung:

Flüssigkristall-Displays:

Optische Beschichtungen:

Universelles Halbleiter-Mikroskop mit der Option zur Schichtdickenmessung.

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